德國SICK型測量光幕，施克測量光幕技術規格

基於進步提升的光學,MLG-2對於高亮反光物檢測具有更高性.
無需編程軟件及同步線纜,實現快速安裝簡易操作
更高速的反應時間確保高度測量更準確
識別測量更小的物體
線纜同步避免多組光柵相互幹擾確保檢測更
基於進步提升的光學,MLG-2對於高亮反光物檢測具有更高性.
功能可複製,使更換設備更簡易
高速模式確保快速通過的物體也能準確測量
高分辨率模式確保可以檢測更小物體
測量高度可達 3200mm
IP 65/67 防護設計, 耐溫可低 -30°C
線纜同步
友操作軟件SOPAS ,通過TCP/IP實現連接
更多樣的接口輸出
透明物檢測模式
快三倍的高速掃描模式
物流 -> 包裹及貨物體積測量
機床 -> 大麵積材料的寬度測量及糾偏應用
型測量光幕/測量光柵主要用於複雜的應用場合。
更小的光軸間距確保實現更細小物體的測量 
光軸間距 2.5mm, 5mm. 10mm, 25mm 50mm
zui小分辨率提高 2.5mm
快速反應時間
IP 65/67 防護設計, 耐溫可低 -30°C
超限檢測 (內部物流)
木材 -> 木材直徑測量

德國SICK型測量光幕，施克測量光幕技術規格
SICK測量光幕/測量光柵產品係列豐富，包含不同的光點間距，檢測高度和輸出類型。
無論是檢測透明物檢測還是塵汙環境,MLG-2可通過SOPAS設置自適應特殊檢測物或檢測環境
更高IP等以及高抗光幹擾性,MLG-2可勝任更多複雜的應用環境使用
高度測量 (內部物流, 零售, 機場)
高度分類 (內部物流)
檢測物體有無通過 (內部物流/機床)
物體識別 (內部物流)
下垂檢測 (機床) ：
雙光軸光同步,確保更穩定測量
可用在輸送帶上物體的分揀，自動化存儲和自動化檢索和全自動化的訂單處理係統。
例如在托盤測量檢定應用中，托盤上物體的zui大高度和是否超限均可被檢測出來，
且數據可以很簡便的通過總線傳送PLC控製器中。
滿足zui通用的需求：
光軸間距 5mm, 10mm, 25mm, 50mm
快速反應時間
檢測高度達3200mm
更簡易的寬高測量,物體識別,超限輸出等設置
IO-Link 1.1, 模擬量及開關量輸出
快速安裝及簡易設置
雙光軸光同步功能
電子 -> 晶圓邊緣破碎檢測
消費 -> 紙巾等大麵積原材料的孔洞檢測